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简介:自动将薄膜、胶水、纤维等的水蒸气透过率转化为数值。通过自动化JISZ0208标准中的杯法透光率测定,可同时解决测试过程中的繁琐工序、耗时问题以及数据呈现方面的难题。也可以进行JISL1099的测量。特
简介:产品数据品番4-803-01产品名称粉体计量供给机(螺旋式)PSF-100SA型号:PSF-100SA商品名粉体计量供给机(螺旋式)PSF-100SAJAN代码4589638264856型号PSF-1
简介:只需点击一个按钮,即可测量添加颗粒与材料颗粒的大小及分布情况。特征●自动采集功能■通过自动进行采集操作,可以避免扫描时的不均匀性,从而获得稳定的分布度数据。●人人都能得到一致的评估结果■借助图像处理技
简介:用途制造过程・产品质量管控(玻璃软化点的测定)概要该装置遵循JIS-R3103-1《玻璃软化点测试方法》(ISO7884-6:1987、ASTMC338)的标准,其测量原理以及样品的制备方式均采用JI
简介:HL9900是一种高性能的霍尔效应测试系统,能够用于测量半导体的电阻率、载流子浓度以及迁移率。它采用模块化设计,便于升级。该系统适用于硅、化合物半导体等各种材料的测试。HL9900是什么?HL9900
简介:在各种工作的间隙测量与调整中,可随时将其切割成合适的长度加以使用。・量规的宽度与长度也可按非标准尺寸定制。・有SK材质、不锈钢材质以及钛材质可供选择。碳素工具钢(SK2~5)制填隙规单位:毫米厚度厚度
简介:特点/用途用于对图案磁性膜等进行微米级局部性能评估的磁滞回线测量装置借助切换机构,可实现平面方向与垂直方向的测量。在空气中仅需简单操作,即可在短时间内评估磁光特性。具备映射测量功能及电动载物台选项※可
MiPLATO-SiC晶圆缺陷检测系统
地址:北京
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简介:MiPLATO-SiC碳化硅晶圆缺陷检测系统是针对SiC晶圆优化的PL扫描成像系统。该系统利用螺旋扫描技术,可在短时间内获取整片晶圆的光致发光信息,从而实现缺陷密度、载流子寿命及膜厚变化的同步测量。其
HORIBA PD-Xpadion光掩膜异物检测装置
地址:北京
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简介:PD-Xpadion是HORIBA光掩膜颗粒检测产品线的最新一代产品。基于创新的模块化平台设计,PDXpadion可以满足光刻和掩膜生产过程中掩膜和薄膜检测的各种需求。通过Fab自动化与HORIBA的
简介:无论工作在何处,都能用于日常检查的一体化工具PocketTrapMan®PT3是一种功能多样的检测设备,它能够通过同时检测温度与超声波振动情况,自动判断蒸汽疏水阀的运行状态以及内部阀门的泄漏情况。PT
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