特点／用途

• 用于对图案磁性膜等进行微米级局部性能评估的磁滞回线测量装置

• 借助切换机构，可实现平面方向与垂直方向的测量。

• 在空气中仅需简单操作，即可在短时间内评估磁光特性。

• 具备映射测量功能及电动载物台选项
  ※可承接测试测量。

概要／规格

NEOARK μKerr 环测量装置基于磁光克尔效应（MOKE），采用聚焦半导体激光实现微米级微区局部磁滞回线测试，专门用于图形化磁性薄膜、微磁结构、自旋电子薄膜等小区域样品的磁性表征，大气环境下即可完成检测，无需真空腔体。 系统标配半导体激光光源，可手动切换面内纵向克尔 / 垂直极向克尔两种测量模式；垂直方向磁场 可达15kOe（1.5T）、面内磁场 可达10kOe；搭配 50 倍物镜时光斑可达微米级空间分辨，可针对微小图形单元定点测试磁滞回线、克尔旋转角。 可选电动 XY 样品台，支持二维 Mapping 面扫描，获得样品表面磁性分布图谱；可拓展低温恒温模块、电压 / 应力外场调控组件，用于多条件下磁特性研究。配套专用测控软件，自动采集磁滞回线、提取矫顽力、饱和磁化、矩形比等参数，原始曲线与数据自动归档导出。 广泛用于自旋电子、磁存储、磁性薄膜、磁光器件、磁畴材料研发，适合高校实验室、材料研发机构、磁元器件企业做微区磁性定量评估。