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PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统
地址:安徽
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简介:PicoFemtoNI-100SEM纳米力测量将纳米压痕仪集成进扫描电镜中,使用户可以在扫描电镜中进行原位纳米压痕研究。该系统由一个三维压电驱动的样品台和一个纳米力测量探针组成。样品安装方式灵活多样,
简介:PicoFemto透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统,透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位加热/电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内安装M
简介:PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统,是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块,实现低温电学测量或全温区测量功能。性能指标透射电子显微镜指标:●兼容指定型号电镜及极靴;●单倾可选
简介:PicoFemto透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统,采用全新的O圈辅助密封设计,更易封装液体。实验中,样品被密封在很薄氮化硅薄膜覆盖的液体池内,池内可以承载一个大气压。芯片电极联通外接电路,从而
简介:PicoFemto透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统,在透射电子显微镜中制造气氛及高温环境,实现1Bar&800℃的端观测条件。该系统使研究者可以在原子尺度上实时观测催化反应、氧化还原反应、
简介:透射电子显微镜TEM-STM量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。在进行原位操纵的同时利用投射电镜及相关附件实时动态地对样品的晶体结构、化
简介:PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶
简介:PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的
简介:PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的
简介:PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片,也可以选择电学测量芯片
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