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透射电子显微镜TEM-STM量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。在进行原位操纵的同时利用投射电镜及相关附件实时动态地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，很大地扩展了透射电子显微镜的功能和应用领域。
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