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安东帕微观组合测试仪MCT³
地址:上海
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简介:微观组合测试仪(MCT³)是一款通用测量头,可全方位面表征涂层和块状样品的力学性能。该仪器载荷范围大,能够确定多种样品的附着力、耐划擦性、硬度、弹性模量、摩擦和磨损等。它适用于有机和无机涂层以及软硬涂
DX 400 比表面积分析仪
地址:北京
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简介:DX400是精微高博公司推出的高效型比表面积测定仪,基于动态色谱分析法原理实现BET比表面积快速测定,相比传统产品,实现准确和快速两大超越测试效率:可测28个样/小时测试范围:0.1~100m2/g-
JW-BK基础型 比表面及孔径分析仪
地址:北京
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简介:产品特点压力传感器核心部件,高精度电容式薄膜压力传感器,C型配置1torr(可选择0.1torr)使得物理吸附分析中的气体分压P/P0可达10-7-10-8(N2/77K)液氮面控制采用3L大容量真空
JW-DX 动态比表面积测定仪
地址:北京
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简介:不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算,完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定;氮分压P/P0范围:0.05-0.35比表面范
JW-DA 动态氮吸附比表面积测定仪
地址:北京
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简介:比表面积、孔隙率、化学吸附和程序升温方法氮分压P/P0范围:0.05-0.35比表面范围:0.01m2/g-无上限炭黑标准样品重复精度:±1%测试效率:5min产品概览产品概览产品特点脱附峰应用于工业
简介:孔径范围:0.35nm-500nm比表面范围:0.0005m2/g-无上限中值孔径重复性(SD):≤0.02nm比表面重复性(RSD):±1%产品特点测试原理低温条件下(液氮或液氩等),在密闭的真空系
JW-TB系列 比表面积及孔径分析仪
地址:北京
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简介:孔径范围:0.35nm-500nm比表面范围:0.0005m-/g-无上限中值孔径重复性(SD):≤0.02nm比表面重复性(RSD):+1%技术优越性独有的Vtech技术融合了Vspace冷自由空间
简介:产品特点测试原理低温条件下(液氮或液氩等),在密闭的真空系统中,改变吸附质气体压力,通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值,进而计算出气体吸附量,描绘出等温吸脱附曲线,应用各种物理
简介:产品特点测试原理低温条件下(液氮或液氩等),在密闭的真空系统中,改变吸附质气体压力,通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值,进而计算出气体吸附量,描绘出等温吸脱附曲线,应用各种物理
简介:孔径范围:0.35nm-500nm比表面范围:0.0005m2-/g-无上限中值孔径重复性(RSD):≤0.02nm比表面重复性(RSD):±1%产品特点测试原理低温条件下(液氮或液氩等),在密闭的真
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