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通道式金属检测机
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简介:通道式金属检测机ER系列金属检测机是针对金属检测机的高灵敏度要求、高稳定性、智能检测技术专门设计,拥有核心发明专利。
直落式金属检测机(德国原装)
地址:江苏
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简介:直落式金属检测机(德国原装)直落式金属探测器适用于食品,医药、化工等行业中对产品进行金属杂质检测,检测物料为散状和颗粒状物料。速卸锁扣便于剔除装置的快速安装与拆卸。
HORIBA研究级经典型椭偏仪 UVISEL Plus
地址:北京
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简介:仪器简介:椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十微米
HORIBA一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
地址:北京
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简介:1主要特点1.液晶调制技术,无机械转动部件,重复性,信噪比高2.技术成像系技术,所有样品均可成像,对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.3.反射式微光斑,覆盖全谱段,利于非均匀样
HORIBA 表面等离子体共振成像仪OpenPlex
地址:北京
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简介:仪器简介:HORIBAscientific将等离子体共振技术、成像技术和微阵列芯片技术进行结合,可以一次获取百种生物分子相互作用的信息,这种这列的测量方式突破了传统通道式测量的局限,特别适用于快筛及实
HORIBA 智能型多功能椭偏仪Smart SE
地址:北京
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简介:仪器介绍:多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参数:·光谱范围:450-1000nm·多种微光斑
HORIBA在线椭偏仪 In-situ series
地址:北京
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简介:仪器介绍:在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。技术参数:·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化主要特点:将激发和探测头引入生产设备,可实现:·动态模式:实时监测膜厚变
HORIBA探测器Synapse CCD
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简介:仪器介绍SynapseCCD是现代光谱测量——从简单的吸收光谱到困难的拉曼或光致发光测量——**的解决方案。这台紧凑型CCD探测器可与所有HORIBAJobinYvon光谱仪连接,为任何实验都提供高灵
HORIBA 探测器
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简介:仪器介绍Symphony系列CCD探测器是世界上光学光谱研究**者HORIBAJobinYvon公司的一类阵列探测器。SymphonyCCD探测器集高灵敏度、高速率、低噪音、坚固耐用,紧凑及高性价比于
HORIBA探测器IGA array
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简介:仪器介绍HORIBA科学仪器部InGaAs阵列探测器,是近红外NIR弱信号探测的理想选择,拥有可以测量到0.8-1.7μm和1-2.2μm的两种类型,制冷可以采用TE制冷或者液氮制冷的方式。可以与HO
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