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X荧光膜厚测试仪EDX600PLUS
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简介:EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验,专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷,无需液氮,无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及
X射线镀层测厚仪Thick800A
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简介:仪器介绍Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行
浪声镀层测厚仪
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简介:镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。ScopeXPILOT台式镀层测厚仪采用下照
WDX-400型多道X射线荧光光谱仪
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简介:产品说明、技术参数及配置仪器简介WDX-400型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道,同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U任意十种元素。标准配置为Na、Mg、Al、Si、S、
顺序式波长色散X荧光光谱仪
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简介:顺序式波长色散X荧光光谱仪产品说明、技术参数及配置WDX-4000是江苏天瑞仪器股份有限公司,在国家重大科学仪器设备开发专项(项目编号:2011YQ170065)资金支持下,融合独有的科技创新和发明,
AFS200系列原子荧光光谱仪
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简介:AFS200系列原子荧光光谱仪仪器介绍AFS200系列双道原子荧光光谱仪是天瑞仪器公司集多年技术积淀,为用户精心打造,具备完全自主知识产权的精密分析仪器。广泛应用于汞(Hg)、砷(As)、锑(Sb)、
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