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简介:超高阻双电四探针测试仪的步骤一.概述Overview:四探针法测试高阻值材料方阻及电阻率,可以测试到1010Ω方阻值,液晶显示,AD芯片控制,恒流输出,四探针双位测量、参考美国A.S.T.M标准。中或
简介:粉末自动压实密度仪的满足的标准1.定义:Definition压实密度的计算公式:压实密度=面密度/材料的厚度在锂离子电池设计过程中,压实密度=面密度/(极片碾压后的厚度—集流体厚度),单位:g/cm3
简介:FT-361系列超低阻双电四探针测试仪的标准一.概述Overview:四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率,*小可以测试到1uΩ方阻值,采用高精度AD芯片控制,恒流输出,液晶显示,自动数据测量,系数补偿
JW-DX 比表面积测定仪
地址:北京
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简介:JW-D系列比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器JW-DX型动态吸附比表
DS-1000动态图像仪
地址:广东
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简介:DS-1000动态图像仪是珠海欧美克仪器有限公司与马尔文帕纳科公司(MalvernPanalytical)合作开发的一款新型动态在线颗粒图像分析仪器。该仪器既可以作为独立的动态图像仪使用,亦可作为图像
NS-90纳米粒度分析仪
地址:广东
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简介:产品介绍:NS-90纳米粒度分析仪是珠海欧美克仪器公司继2014年成功推出Topsizer高性能激光粒度分析仪之后,继续引进和吸收马尔文帕纳科公司(MalvernPanalytical)的先进颗粒表征
智能粉末电阻率测试的步骤
地址:浙江
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简介:智能粉末电阻率测试的步骤一、概述Overview:采用一体化结构设计,将粉末比电阻的测量与粉体电阻率/电导率分析为一体,测量与数据分析通过PC软件完成,粉体压强与电阻值、电阻率、电导率值的变化关系;粉
固体表面电位仪
地址:北京
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简介:DT-330固体表面电位仪包含DT-300的功能,能够用于几乎所有类型的多相异构系统,,包括颗粒、沉积物和多孔材料包括高频电导率探头,可以通过方法测量孔隙率通过电声电振法可以测量多孔材料的表面zeta
Zeta电位分析仪
地址:北京
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简介:纳米粒度和Zeta电位分析仪Litesizer™500的一大亮点是其简单而巧妙的软件。我们已创建了可将输入参数、结果和分析集中到单个页面上的一页式工作流程:您可以在数秒内完成试验设置,只需简单按键即可
Zeta电位仪
地址:北京
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简介:502型显微电泳法Zeta电位仪特点1.传统测量原理:通过传统微电泳方法测量胶体颗粒的zeta电位。与激光光散射法相比,没有黑盒子。2.通过激光暗场照明观察纳米颗粒:502的独特的超显微镜设计提供了一
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