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彩色滤光片分光特性测量装置　LCF series

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：产品信息特点以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板上膜的薄膜解析等各类评价通过自动对焦功能

量子效率测量系统　QE-2000/2100

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：特点测量精度高•可瞬间测量**量子效率（**量子收率）•可去除再激励荧光发光•采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系•采用了低迷光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域的迷光操作简单•专业软件，操作

高速LED光学特性仪　LE series

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：特点•与产线的控制信号同步•通过光纤的自由的测试系统•实现*短2ms～的光谱测量（LE-5400）•同以往的产品相比，测量・演算・评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型测量项目三刺激值（kX,kY,k

全光束测量系统　HM/FM series

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：产品信息特点•可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量•测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准•采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量•测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从φ250毫

分光配光测量系统　GP series

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：产品信息特点•支持**2400mm的LED灯具的光分布测量•对应有机EL和大显示器的光分布测量•通过自动控制2轴测角仪，每个角度测量光谱分布，由球面系数法可以求出光谱总辐射通量、总光通量、色度、色温等

高速配光测量系统GP-7

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：产品信息特点高速测量（约10分钟），与传统方法相比时间大幅缩短仅通过一次测量，可计算在各种条件下的测量结果使用二维亮度传感器进行近场测量安装在暗箱中，无须暗室设施通过原始照度•亮度计算算法实现高信噪比

分光干渉式晶圆膜厚仪 SF-3

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：即时检测WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化(强酸环境中)产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速的即时研磨检测可穿越保护膜、观景窗

超高速分光干渉式膜厚仪

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：以非接触方式测量晶圆等的研磨和抛光工艺，超高速、实时、高精度测量晶圆和树脂产品详细信息特点非接触式，非破坏性厚度测量反射光学系统（可从一侧接触测量）高速（**5kHz）实时评测高稳定性（重复精度低于0

非接触式光学膜厚仪

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：特长非接触式测量不透明、粗糙，易变形的样品反复性・再现性高无标准曲线也可知道**厚度测量径很小，不受斑点的影响样品位置无需调整，放进去即可。稳定性高，不会产生误差，所以谁都能操作。光学方式原理所以安全

嵌入式膜厚仪FE-5000

公司：大塚电子（苏州）有限公司

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简介：特点可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数可分析纳米级多层薄膜的厚度可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso光谱通过可变反射角测量，可详细分析薄膜通过创建光学常数数