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全自动比表面积和中孔微孔分析仪

公司：贝士德仪器科技（北京）有限公司

地址：北京

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简介：BSD-PS型比表面及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，1个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50

Zeta 电位仪

公司：荷兰安米德（Ankersmid）有限公司

地址：上海

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简介：Zeta-Meter4.0+Zeta电位仪*粒度范围：0.5-100微米*专业的Zeta电位测量仪器*可靠性高而价格低技术参数ζ电位-125～＋125mV电泳淌度:＋20～-20μm/s每V/cm电导

EyeTech 静态图像分析仪

公司：荷兰安米德（Ankersmid）有限公司

地址：上海

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简介：进行显微镜观测的干粉准备比较困难。如果没有标准的程序，操作者往往发展自己的一套方法。干粉分散的**困难在于得到均匀的单层颗粒分布，避免颗粒聚集，同时须保持颗粒本身形态不发生变化。使用安米德PD-10，

CPS纳米粒度分析仪

公司：荷兰安米德（Ankersmid）有限公司

地址：上海

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简介：CPS纳米粒度分析仪具有如下特点粒度范围：5-75000纳米 *高分辨率、准确度和高灵敏度 *量测任何密度的颗粒 *宽动态范围 *比同类分析仪更快的分析速度 *使用自动给料器，可以实现无

激光粒度粒形分析仪

公司：荷兰安米德（Ankersmid）有限公司

地址：上海

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简介：激光和图像通道的结合独特的结合了激光光阻法和复杂的动态粒形分析技术对球形、非球形及延长颗粒的精确分析定性可同时测量粒径、形状和浓度多种模块配置可满足不同类型的干法及湿法检测需求测量

激光粒度粒形分析仪

公司：荷兰安米德（Ankersmid）有限公司

地址：上海

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简介：激光和图像通道的结合独特的结合了激光光阻法和复杂的动态粒形分析技术对球形、非球形及延长颗粒的精确分析定性可同时测量粒径、形状和浓度多种模块配置可满足不同类型的干法及湿法检测需求测量

粉末材料比表面和孔隙度分析仪

公司：贝士德仪器科技（北京）有限公司

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简介：BSD-PS型比表面及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，1个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50

氧化铝比表面和孔隙度分析仪

公司：贝士德仪器科技（北京）有限公司

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简介：BSD-PS型比表面及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，1个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50

粉体材料比表面和孔隙度分析仪

公司：贝士德仪器科技（北京）有限公司

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简介：BSD-PS型比表面及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，1个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50

静态容量法比表面和孔隙度分析仪

公司：贝士德仪器科技（北京）有限公司

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简介：BSD-PS型比表面及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，1个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50