Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜,可用于多样品快速观察,帮助提升实验室日常样品检测效率。
Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒,可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析,适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝,电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm,适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。
该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器,并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定,可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议,并预约试样。
Phenom XL G3 的样品承载能力可同时容纳 36 个样品。对于需要连续观察多个样品的实验室,可以集中安排待测样品,减少频繁更换样品带来的操作时间。
平均成像时间约 40 秒,可用于快速获取样品微观图像。对于以形貌观察和样品筛查为主的检测任务,有助于提高日常测试效率。
设备**支持 100 x 100 mm 样品分析,不仅可以处理常规尺寸样品,也能够满足部分较大尺寸样品的观察需求。
电子光学放大倍数**可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm。测试时可以根据样品特点和观察目标调整放大倍率,对材料表面、颗粒、缺陷及局部结构进行观察。
Phenom XL G3 采用 CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时。加速电压在基本模式下提供 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV 和 20 kV 五档选择,高级模式支持 4.8 kV - 20.5 kV 连续可调。
设备提供低、中、高三种真空模式,可根据不同样品选择工作条件。探测器方面标配背散射探测器,并可选配二次电子探测器和能谱探测器。
如果检测过程中需要进一步了解颗粒、异物或特定区域的元素信息,可根据实际需求配置能谱探测器。
Phenom XL G3 可应用于:
多样品连续观察
实验室日常材料检测
材料研发与表征
样品快速筛查
工业质量控制
缺陷及异常区域观察
第三方检测服务
较大尺寸样品分析
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 光学放大 | 3 - 19 X |
| 电子光学放大 | 200,000 X |
| 分辨率 | 优于 8 nm |
| 电子枪 | CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时 |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 平均成像时间 | 约 40 秒 |
| **样品尺寸 | 100 x 100 mm |
| 样品承载 | 可同时容纳 36 个样品 |
| 加速电压 | 基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 高级模式 | 4.8 kV - 20.5 kV 连续可调 |
| 真空模式 | 低 / 中 / 高三种模式 |
| 探测器 | 背散射探测器 |
| 可选探测器 | 二次电子探测器、能谱探测器 |
设备样品承载能力可同时容纳 36 个样品,适合多样品连续观察和批量检测。
可以。**样品尺寸为 100 x 100 mm,具体可测试样品还需要结合样品形状、厚度和实际装样条件确认。
平均成像时间约 40 秒,实际成像时间会受到样品特性、成像参数和观察要求等因素影响。
可以根据需求选配能谱探测器,用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。
具体价格根据设备配置、探测器选择及实际应用需求确定。可通过平台询价或留言提交样品类型、样品数量及测试需求,获取官方选型建议。
如需了解 Phenom XL G3 在多样品快速观察、批量样品检测及实验室日常测试中的具体配置、应用资料或报价信息,可通过平台询价或留言提交样品类型、尺寸及测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。