粉末颗粒形貌与成分分析用飞纳电镜 Phenom ProX G7

产品简介

粉末材料的微观分析通常需要同时关注两个方面：一是颗粒长什么样，二是颗粒由什么元素组成。颗粒大小、表面状态、团聚情况等形貌信息，可以帮助了解粉体的微观结构；而对特定颗粒或异常颗粒进行元素分析，则有助于进一步判断其成分特征。

Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜能谱一体机，将扫描电镜成像与能谱分析集成于同一设备，可用于粉末颗粒的形貌观察及微区成分分析。通过扫描电镜获取颗粒微观图像，并结合能谱探测器获取元素信息，可从形貌和成分两个维度对粉体样品进行分析。

设备电子光学放大倍数可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，采用 CeB6 灯丝，适合粉体颗粒、异物颗粒及局部异常区域的微观观察。加速电压支持基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV，高级模式下可在 4.8 kV - 20.5 kV 范围内连续调节。

针对不同粉末材料和测试需求，Phenom ProX G7 支持高、低真空模式，并标配背散射探测器和能谱探测器，同时可选配二次电子探测器，可根据实际分析任务选择相应的观察方式。

通过扫描电镜图像，可以观察粉末颗粒的形状、表面状态、颗粒之间的团聚情况以及局部结构特征，为粉体材料的微观形貌表征提供图像依据。

对于粉末中形貌存在明显差异的颗粒，可以进一步进行局部观察，对比不同颗粒或不同区域的微观特征。

当粉末样品中出现与主体颗粒形貌不同的异常颗粒时，可结合扫描电镜图像进行定位，并利用能谱探测器分析其元素组成，为异物或污染颗粒的判断提供参考。

Phenom ProX G7 集成能谱分析能力，可针对颗粒或指定微区开展元素分析，从而将颗粒形貌观察与元素信息结合起来。

Phenom ProX G7 将扫描电镜成像和能谱分析结合，可在获取颗粒形貌图像后进一步进行元素分析，适合需要同时了解粉末形貌和成分的测试任务。

电子光学放大倍数**可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，可用于粉末颗粒及其局部细节的微观观察。

加速电压支持多档选择，高级模式下可在 4.8 kV - 20.5 kV 范围内连续调节；同时提供高、低真空模式，可根据不同样品特点选择相应测试条件。

设备标配背散射探测器和能谱探测器，可选配二次电子探测器。不同探测方式可用于获取粉末颗粒的形貌及成分等信息。

除粉末颗粒基础表征外，还可用于粉体研发、异常颗粒分析、污染物排查及工业质量控制等应用。

Phenom ProX G7 可用于：

可以。设备集成扫描电镜和能谱分析功能，可先通过扫描电镜观察颗粒形貌，再结合能谱探测器对目标颗粒或局部区域进行元素分析。

可以。对于样品中的异形颗粒、污染物或其他异常区域，可利用扫描电镜进行定位和形貌观察，并结合能谱分析其元素组成。

可用于多类粉体及颗粒材料的微观分析，具体适用性需要结合样品材质、颗粒尺寸、导电性以及实际分析目标进行判断。

产品价格根据具体配置、探测器选项、样品类型及分析需求确定。用户可通过平台询价或留言提交样品信息和测试要求，获取相应的选型建议。

如需了解 Phenom ProX G7 在粉末颗粒形貌观察、微区成分分析及异常颗粒检测中的应用资料、配置方案或报价信息，可通过平台询价或留言提交样品类型与分析需求，获取进一步产品信息。