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日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤
日本探头JP‑PROBE NAUT21‑I 空耦水浸两用超声波检测系统 无损探伤
  • 型号

    NAUT21‑I
  • 产地

    日本
  • 品牌

  • 产品分类

    无损检测/无损探伤仪器
  • 关注度

    107
  • 参考报价

    1万元以下
产品详情

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可在空中(空气耦合)检测,水中(水浸)检测两种方法并用的样机.

用空气耦合超声波检测方法检查出的缺陷(C扫描,可确定缺陷的平面信息)、再用水浸检测法更详细的检测(可确定缺陷的空间位置)。


利用空气耦合超声波检查可实现非接触检测,可使材料的内部缺陷信息平面成像可视化。再与水浸检查法并用,使材料内部的缺损信息3D成像。

例如、锂离子电池的检查、先用空气耦合超声波检测把握缺陷的平面位置、然后再用水浸超声波检查法进行断层成像确定缺陷的深度位置,为锂离子电池的质量提高提供**方案。

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