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日本DENSOKU (電测)CT‑3 电解式膜厚计 电镀层厚度测试仪
日本DENSOKU (電测)CT‑3 电解式膜厚计 电镀层厚度测试仪
  • 型号

    CT‑3
  • 产地

    日本
  • 品牌

  • 产品分类

    其他测试设备
  • 关注度

    173
  • 参考报价

    1万元以下
产品详情

image.png

尺寸240(宽)×181(深)×121(高)[mm]
※不含突出物
重量3.0 [kg]


CT‑3电解式膜厚计,面向电镀工厂、电子元器件、精密五金行业,依靠恒定电流电解溶解固定面积镀层,通过溶解时间换算镀层真实厚度,属于接触式有损检测方法。

设备搭载Active主动功能,可去除工件表面少量氧化膜,降低氧化层带来的测量异常,提升现场检测成功率。三档电解速度可调,薄贵金属镀层选用低速档位保障精度,厚镀层选用高速档位提升检测效率;LED数字显示屏支持μm、nm单位直读,拨盘旋钮设定参数,操作流程简洁。

标配三种不同孔径垫片,适配大小不同试样;搭配WT线材测试台,可完成极细导线、圆棒试样镀层检测;支持多层镀层测量。仪器机身小巧轻便,适合产线巡检与实验室质检。广泛用于连接器、端子、PCB、紧固件、线材等电镀层厚度检测,用于电镀工艺调试、来料检验、成品品质管控场景。



电解式膜厚计CT-3的特点

image.png

度设定很简单

所有设置均通过旋钮完成,故可轻松地为所要测量的镀层找到合适的设置。

轻量、紧凑

本体重量为3.0kg,十分轻便,机身也极为紧凑。

新增高感度范围

在灵敏度设置方面,现在可以设置比前代模型更高的灵敏度,从而提升测量的稳定性。

广泛的校准范围

通过标准板进行校准后,其校准范围为±15%,范围相当广泛。

可实现1/100比例缩放

也可用于Au、Cr等薄膜的镀层检测,具备1/100量级(以0.001微米为单位进行测量)的检测能力。

标准配备3种类型的密封垫范围。

可使用3.4φ、2.5φ、1.8φ三种类型的密封垫。

搭载主动功能

借助主动功能,可以去除少量氧化膜,从而减少因氧化膜导致的测量失败。


电解式膜厚计 CT-3的规格

测量范围0.006~300μm
MIN 分解能0.125μm/s,或0.0125μm/s,0.00125μm/s
本体精度±1%
测定单位μm,nm(通过LED显示直接读取)
测定面积使用A型密封圈时为3.4mm直径
使用B型密封圈时为2.5mm直径
使用C型密封圈时为1.8mm直径
电源AC100V (110V,220V)、50/60Hz
本体尺寸宽240×深181×高121mm
重量3.0kg(仅本体)


通用附件・选项

标准附属品

标准附件: ・电解液(100mL) ・清洗瓶1个,废液瓶1个 ・测量台 ・密封圈A、B、C ・电池A、B ・标准板(Ni/Fe)1块 ・清洁液(100mL)1瓶 ・阳极与阴极导线 ・使用说明书 *电解液的常规销售规格为500mL装。


WT(导线测试仪)

对于线材以及宽度在1.7mm及以下的小型零件的测量,需要使用WT(线材测试仪)。 标准附件(可选) ・阳极夹具 ・塑料夹具(现已停止生产) ・WT(线缆测试仪)

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