材料成分与形貌联合表征方案
飞纳 ProX 电镜能谱一体机(型号:Phenom ProX G7)将扫描电镜成像与能谱解析集成于台式平台,面向材料科学领域,提供微区元素组成判定与表面形貌同步表征能力。
成像与成分一体化扫描电镜成像与能谱解析能力集成于单一设备,实现形貌观察与元素判定的同步获取。
高分辨成像电子光学放大上限 350,000 X,空间分辨优于 6 nm,可捕捉常规材料的微观结构细节。
长效电子源CeB₆ 灯丝持续运行寿命优于 3000 小时,降低维护成本,保障长期稳定运行。
宽压覆盖基础档 2 / 5 / 10 / 15 / 20 kV,连续档 4.8 kV–20.5 kV,适配不同样品荷电特性。
真空双模式高真空满足极限分辨需求,低真空缓解非导电样品荷电效应。
探测配置背散射探测器与能谱探测器为出厂标配;二次电子探测器可按需增配。
光学导航彩色相机辅助快速定位目标观测区域。
高校教学科研实验室
企业技术研发中心
第三方检测服务机构
工业现场质检环节
材料微区元素组成判定
表面形貌与成分联合表征
颗粒、异物及瑕疵区域溯源
材料研发阶段结构解析
来料及成品质量评估
失效样品微观分析
| 参数项 | 指标 |
|---|---|
| 光学放大 | 27–160 X |
| 电子光学放大 | 350,000 X |
| 分辨能力 | 优于 6 nm |
| 电子枪 | CeB₆ 灯丝,使用寿命优于 3000 小时 |
| 光学导航 | 彩色相机 |
| 加速电压(基础档) | 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 加速电压(连续档) | 4.8 kV–20.5 kV 连续可调 |
| 真空环境 | 高真空 / 低真空 |
| 标准探测单元 | 背散射探测器、能谱探测器 |
| 扩展探测单元 | 二次电子探测器 |
常见问题:
1. 这款设备适合做什么分析?适合材料形貌观察、微区元素分析、颗粒异物分析、失效分析和研发质检。
2. 是否可以做元素分析?可以。该产品为电镜能谱一体机,可用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。
3. 价格是多少?价格根据配置、探测器选项和应用需求确定,可通过平台询价入口获取官方选型建议,并预约试样。
如需了解 Phenom ProX G7 在材料成分分析中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。