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BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪
BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪
  • 型号

    BeNano 180 Zeta Max
  • 产地

    丹东
  • 品牌

    丹东百特
  • 产品分类

    zeta电位仪
  • 关注度

    185
  • 参考报价

产品详情

产品介绍


BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是丹东百特仪器有限公司2024年**推出的表征纳米体系特性的**光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率、以及颗粒物浓度信息等等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等等领域的基础研究和质量分析质量控制用途。


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基本性能指标


粒径检测(动态光散射法)

  粒径范围  0.3 nm – 15 μm
  *小样品量  3 μL
  检测角度  173 °+90 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

沉降法粒度测试

  检测方法  沉降法
  粒径范围  1μm-50μm
  检测角度  0°
  样品量  1-3ml

Zate电位测试

  检测角度  12°
  Zeta范围  无实际限制
  电泳迁移率范围  > ±20 μ.cm/V.s
  电导率范围  0 - 260 mS/cm
  Zeta测试粒径范围  2 nm – >120 μm  

分子量测试

  分子量范围  342 Da – 2 x 107 Da

微流变测试

  测试能力  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

趋势测试

  模式  时间和温度

浓度检测

  检测方法  LEDLS
  测试能力  体积分数和数量浓度

折光率测试

  检测方法  楔形池样品折射(无需示踪粒子)
  检测角度  0°
  RI范围  1.2-1.6
  精度  优于0.1%
  *小样品量  380 μL

系统参数

  温控范围  -15°C - 120°C
  冷凝控制  干燥空气或者氮气
  相关器  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm
  电泳迁移率范围  快、中、慢多模式,*快25 ns采样,*多 4000通道,1011动态线性范围
  检测器  APD (高性能雪崩光电二极管)+PD+CMOS
  光强控制  0.0001%  - 100%,手动或者自动    



检测参数


动态光散射

●流体力学尺寸 Dh

●分布系数 PD.I

●扩散系数 D

●颗粒间相互作用力因子 kd

●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●计算分子量

●溶液粘度和折射率

●流变学信息G*,G‘,G“,η*,J


电泳光散射

●Zeta电位及其分布

●带电颗粒的电泳迁移率


透射

●透射浊度

● 颗粒物浓度

●液体折射率

●沉降法粒度和粒度分布测试


趋势测试

● Zeta电位和粒径的pH滴定

● 粒径和Zeta电位的温度趋势测试


静态光散射

● **分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二维利系数A2



选配件


动静态流动模式

BeNano动静态流动模式(Flow Mode)是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端(FFF、GPC/SEC)相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离,依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号,并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号,得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

 

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BAT-1自动滴定仪

样品的Zeta电位和粒径对于分散液介质环境具有强烈的依赖性,尤其是环境pH,不但影响Zeta电位的大小,而且会影响颗粒体系的带电符号。BAT-1自动滴定仪与BeNano系列连用,内置三个高精度滴定泵和一个样品输送泵,具有样品搅拌能力,可以对于样品的粒径和Zeta电位进行自动化的酸碱滴定测试,具有测试效率高、精确定量、重复性好、结果不依赖于操作者等特点。由于盛放样品的样品管可抛弃,避免了交叉污染的风险。

 

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BeScan稳定性分析仪

BeScan稳定分析仪是基于多重光散射原理的样品稳定性分析设备,通过检测得到样品随空间分布、时间、温度的不稳定性变化,并给出不稳定性指数IUS,粒子迁移速度及样品粒径随时间的变化曲线等信息。 BeScan灵敏的光学系统可以给出超过肉眼200倍以上的灵敏度,能更好的洞悉样品的微观结构变化,从而极大的节约检测时间,缩短配方研制周期。BeScan与BeNano联合使用,通过定量的IUS和Zeta电位信息研究样品的变化及其原因。

 

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相关技术    


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