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采用适应CCD采集的C-T光学系统，平场采样，全谱接收独立的光谱采集、处理模块，高性能的ARM处理器，实时操作系统，独立优化的数据处理单元，可极大缩短分析时间，提高仪器的分析精度；▲曲率半径 450mm ▲IV型全息像差校正原刻光栅 刻线3600线/nm▲波长范围 130-800nm▲检测基体 铁、铜、铝、镍、锌、锡、钛、镁等基体
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