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赛默飞(原FEI)发射扫描/透射电子显微镜
赛默飞(原FEI)发射扫描/透射电子显微镜
  • 型号

    F200i S/TEM
  • 产地

    捷克
  • 品牌

    赛默飞
  • 产品分类

    扫描电镜
  • 关注度

    6011
  • 参考报价

产品详情

产品描述

  Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是赛默飞**的用于高分辨率成像和分析应用的场发射扫描/透射电子显微镜,其电压范围为20到200 kV,是专为满足各种材料科学样品和样品的性能和效率而设计的。现可提供对称布置的双100 mm2 Racetrack 检测器“( Dual-X”),以**限度提高分析通量。 
Talos F200i标准的 X-TWIN 物镜极靴间距在应用中具有**灵活性,结合高再现性能的镜筒设计,可支持高分辨率二维和三维表征分析、原位动态观测及电子衍射应用。Talos F200i 还配备了 4k × 4k Ceta 16M 相机,可在 64 位平台上提供大 视场、高灵敏度快速成像。
    Talos F200i S/TEM 专为多用户和多学科环境设计,并配备了可在所有赛默飞 TEM 平台使用的Thermo Scientific™ Velox™ 用户界面,对于新用户来说也非常友好。此外,所有 TEM 日常调整都已经自动化,以提供**并可重复的日常设置。自动调节功能简化了初学者的学习过程,减少了多用户环境中的紧张关系,并使有经验的操作员可以在较短时间内获取数据信息。

产品参数

产品参数

TEM 线分辨率

 0.10 nm

LACBED **会聚角

 100 mrad

**衍射角

24°

STEM 分辨率

 0.16 nm

EDS

侧插式,可伸缩

电子枪类型

场发射枪或高亮度场发射枪



样品操作

Z 动总行程 (标准样品杆)

± 0.375 mm

三维重构样品杆** α 倾转角 (高视野样品杆)

± 90°

样品漂移 (标准样品杆)

 0.5 nm/min

特色与用途

关键优势

EDS 技术可实现。从单 30 mm2 探头到可实现高通量 (或低剂量)分析的双 100 mm2 探头,可根据您的需求

选择*理想的 EDS

高质量 S/TEM 图像和准确的 EDS借助创新直观的 Velox 软件用户界面,可通过极其简单的操作方法,获得 高质量 TEM S/TEM 图像。Velox 软件内置的特有的 EDS 吸收校准功能可实现*精确的定量分析

**的原位动态分析功能。加装三维重构或原位分析样品杆高速相机、智能软件 X-TWIN 物镜间距可实现三维成像和原位数据采集,同时**限度避免分辨率和分析能力的损失

提高生产效率。超稳定镜筒设计;借助 SmartCam 实现远程操作;物镜功率恒定,可实现快速电镜模式和高压切换并可轻松快速切换多用户环境

**可重复性的可靠数据。所有日常 TEM 合轴例如聚焦、心高度调节、电子束偏转、聚光镜光阑对中、电子束倾斜枢轴点以及旋转中心调整都是自动完成确保用户总是**成像条件开始。实验可多次重复因而用户可以更多关注研课题不再纠结于电镜操作 

快速大视成像。大视场的 4k × 4k Ceta CMOS 相机可以在整个高压范围实现高灵敏度、高速实时数字变焦

紧凑型设计。本设备具有更小的尺寸和占地面积,便在更具挑战性的较小空间内安装,同时有助于维修和降低安装和维护成本 


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