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JW-DA 动态氮吸附比表面积测定仪
地址:北京
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简介:比表面积、孔隙率、化学吸附和程序升温方法氮分压P/P0范围:0.05-0.35比表面范围:0.01m2/g-无上限炭黑标准样品重复精度:±1%测试效率:5min产品概览产品概览产品特点脱附峰应用于工业
JW-DX 动态比表面积测定仪
地址:北京
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简介:不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算,完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定;氮分压P/P0范围:0.05-0.35比表面范
JW-BK基础型 比表面及孔径分析仪
地址:北京
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简介:产品特点压力传感器核心部件,高精度电容式薄膜压力传感器,C型配置1torr(可选择0.1torr)使得物理吸附分析中的气体分压P/P0可达10-7-10-8(N2/77K)液氮面控制采用3L大容量真空
DX 400 比表面积分析仪
地址:北京
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简介:DX400是精微高博公司推出的高效型比表面积测定仪,基于动态色谱分析法原理实现BET比表面积快速测定,相比传统产品,实现准确和快速两大超越测试效率:可测28个样/小时测试范围:0.1~100m2/g-
简介:孔径范围0.35nm-500nm比表面范围0.0001m2/g-无上限中值孔径重复性(SD)≤0.02nm比表面重复性(RSD)±1%产品概览Features产品特点测试原理低温条件下(液氮或液氩等)
简介:孔径范围0.35nm-500nm比表面范围0.0005m2/g-无上限中值孔径重复性(标准偏差)≤0.02nm测试重复性(RSD)±1%产品概览产品特点测试原理低温条件下(液氮或液氩等),在密闭的真空
简介:孔径范围0.35nm-500nm比表面范围0.0001m2/g-无上限中值孔径重复性(SD)≤0.02nm比表面重复性(RSD)±1%产品概览Features产品特点测试原理低温条件下(液氮或液氩等)
简介:孔径范围0.35nm-500nm比表面范围0.0001m2/g-无上限中值孔径重复性(SD)≤0.02nm比表面重复性(RSD)±1%产品概览Features产品特点测试原理低温条件下(液氮或液氩等)
简介:产品概览AMI-300IR代表着催化剂表征仪器的发展方向和未来,美国AMI仪器公司自1984年推出全世界首台全自动化学吸附分析仪之后,于2015年又推出全世界**台全自动原位红外催化剂特性表征系统。化
简介:产品概述:◆全自动&多站&动态法&比表面积◆功能:比表面积测试◆测试原理:动态色谱法◆测试方法:参比法&BET单点法◆重复性精度:RSD<1%(炭黑G8)性能参数Per
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