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BeNano 180 纳米粒度仪
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简介:产品介绍BeNano180纳米粒度分析仪是采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理,样品分散在样品池中,通过激光照射到样品上,光电检测器在背向173°角检测样品
简介:产品介绍BeNano90Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano90+BeNanoZeta二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准确
CPS纳米粒度仪
地址:北京
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简介:CPS纳米粒度分析仪,有别于传统方法,通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案这种原理有以下几点优势:分辨率高:同激光散射和颗粒计数法等方法比较,该方法有非常高的分辨率。对于只有1%的颗粒
Nicomp N3000 纳米粒度仪
地址:美国
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简介:Nicomp3000系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案仪器型号:PSSNicompN3000Plus工作原理:动态光散射(DynamicLightScattering,DLS)检测范
Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
地址:美国
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简介:Nicomp3000系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案仪器型号:Z3000Standard工作原理:粒度分布:动态光散射(DynamicLightScattering,DLS)ZET
纳米粒度仪智能样品助手
地址:上海
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简介:ZetasizerAdvance系列的新附件——智能样品助手,将显著提高您的系统利用率。它帮助实验人员告别枯燥重复的手动换样操作,更加高效地获得和ZetasizerAdvance系列同样出色的数据质量
简介:NS-90ZPlus纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科(MalvernPanalytical)纳米颗粒表征技术后,在上一代NS-90Z的基础上进一步优化了光学电子
三维动态光散射仪/纳米粒度仪(DLS)
地址:上海
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简介:即使在高浓度下,无误差DLS粒度测量NanoLab3D是一款紧凑型动态光散射(DLS)粒度测量仪器,基于开创性的专利调制三维互相关技术(Modulated3DCross-Correlation)。它有
简介:可变角度光散射仪(广角动/静态光散射仪)用于颗粒表征。LSSpectrometer是一种可变多角度光散射仪器(V-MALS)。在LSSpectrometer中,检测器安装在可移动的臂上,可以对几乎任何
NANO-FLEX II纳米粒度分析仪
地址:上海
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简介:德国ColloidMetrix公司是一家专业研发和制造表征交替特征的仪器公司。在胶体配方分析方面,CMX公司的STABINO,ZETA-CHECK和NANO-FLEX为用户提供了全新的流动/Zeta电
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