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zeta电位测量粒子浓度测定装置
zeta电位测量粒子浓度测定装置
  • 型号

    EL-SEneoSE
  • 产地

    日本
  • 品牌

    日本otsukael大塚电子
  • 产品分类

    zeta电位仪
  • 关注度

    60
  • 参考报价

    5-10万元
产品详情

测量功能多样

  • 多功能集成:可根据用途增加功能,如分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定等。

  • 粒径和Zeta电位测量:可测量从稀薄到浓厚溶液(约40%)的粒径和Zeta电位

  • 高盐浓度测量:可在高盐浓度下测定平板状样品的Zeta电位

  • 宽温度范围:可在0~90℃的广阔温度范围内进行测量,并通过温度梯度功能对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

高精度测量

  • 实测电气浸透流图分析:通过样品池内的实测电气浸透流图分析,提供高精度的Zeta电位测量结果

  • 多角度测定:通过从正面、侧面和背面三个角度进行测量和分析,提供具有更高分辨率的粒径分布

适用范围广泛

  • 多种样品类型:适用于从稀薄到浓厚溶液的测量,可测量浓度范围从0.00001%(0.1ppm)的稀溶液到40%的浓溶液

  • 多种应用领域:适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学等领域的基础研究和应用研究

选配件丰富

  • 多种样品池单元:包括Zeta电位平板单元、Zeta电位微小平板单元、Zeta电位微量可抛式Cell unit、Zeta电位浓厚Cell unit、Zeta电位低介电常数Cell unit、粒径超微量玻璃Cell unit等

  • pH滴定仪:可自动测量随着不同pH值或添加剂浓度的粒径/Zeta电位变化

  • 高感度示差折射仪:用于实测解析分子量时必不可少的参数dn/dc

技术参数

  • 测量原理

    • 粒径:动态光散射法(光子相关法)

    • Zeta电位:电泳光散射法(激光多普勒法)

    • 分子量:静态光散射法

  • 光学系统

    • 粒径:零差光学系统

    • Zeta电位:外差光学

    • 分子量:零差光学系统

  • 光源:高功率半导体激光器

  • 探测器:高灵敏度APD

  • 样品池单元

    • Zeta电位:标准池、微量一次性池或浓缩池

    • 粒度/分子量:方形池

  • 温度范围:0~90℃(带温度梯度功能)

  • 电源:220V ± 10%,250VA

  • 尺寸(WDH):330(W)×565(D)×245(H)

  • 重量:22公斤

应用实例

  • 新型功能材料领域:如燃料电池相关材料(碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属)和纳米生物相关材料(纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子)

  • 陶瓷/着色材料工业领域:如陶瓷(二氧化硅/氧化铝/氧化钛等)、无机溶胶的表面改性、颜料的分散/聚集控制

  • 半导体领域:如异物附着在硅晶片表面的原理解析

  • 聚合物/化工领域:如乳液(涂料/粘合剂)的分散/聚集控制、聚电解质的功能研究

  • 制药/食品工业领域:如乳液(食品/香料/医疗/化妆品)分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

ELSZneoSE凭借其多功能性、高精度测量能力和广泛的适用范围,成为科研和工业领域中不可或缺的分析工具。


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