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日本techno morioka高精度电阻率计7721系列

公司：深圳秋山工业设备有限公司

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简介：紧凑尺寸：业界最小的紧凑尺寸，尺寸为W48xH96xD101mm，便于安装和使用。高精度测量：通过采用电极常数0.1传感器和专用测量电路，可以实现高精度测量。模拟输出与通信功能：具备模拟输出、报警输出

日本techno morioko薄型电阻率测定仪

公司：深圳秋山工业设备有限公司

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简介：产品特点紧凑尺寸：业界*小的紧凑尺寸，尺寸为W48xH96xD101mm，便于安装和使用。高精度测量：通过采用电极常数0.1传感器和专用测量电路，可以实现高精度测量。模拟输出与通信功能：具备模拟输出、

日本kokusai-electric台式电阻率测量系统设备

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简介：产品特点四探针测量技术：采用四探针法进行电阻测量，这种方法可以有效消除接触电阻的影响，提高测量精度，适用于测量低电阻材料。手动操作：作为手动型设备，可能需要用户手动放置样品和操作测量过程，适合实验室环

日本日东精工n-analytech 膜厚分布电阻率自动测量系统MCP-S620型

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简介：电阻率自动测量系统全自动测量：测量、计算、数据处理和3D图形输出完全自动化。大样品尺寸测量：样品尺寸可达300mm，可容纳多个样品。多种测量方式：可以通过三种方式进行测量位置设置：网格输入、直线输入和

日本nps片状电阻率测定器Model sigma-5+

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简介：宽测量范围：可连接到LorestaGX，测量范围为10⁻⁴至10⁷Ω。比较器功能：在屏幕上标注范围外的测量结果的测定点。粉末测量功能：要测量粉末的体积电阻率，只需将样品放入探头单元并将其放置在设备中即

日本nps 硅测量手持型电阻率测定器 PV-628

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简介：功能与应用应用领域广泛：适用于金属、金属薄膜、导电涂层、导电薄膜、片材等多种材料的电阻率测量。膜厚和成分变化检测：导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。电子元件和材料开发：可用于电子元

日东精工NITTOSEIKO 低电阻率自动测量系统MCP-S330

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简介：产品特点全自动测量：测量、计算、数据处理和3D图形输出完全自动化，大大提高了测量效率和准确性。大样品尺寸测量：样品尺寸可达300mm，可容纳多个样品，能够绘制最大300mm见方的样品并连续测量多个样品

日本fsd富士小型数字电阻率调节计抵抗率计CUP-2

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简介：产品特点数字显示：采用数字显示技术，能够直观、准确地显示电阻率测量值，便于用户快速读取和记录数据。小型便携：作为小型设备，CUP-2可能具有紧凑的体积和轻便的重量，便于携带和在不同场所使用，适合现场测

日本日东精工n-analytech薄膜涂料测量高电阻率计MCPHT800

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简介：产品特点高精度测量：采用恒流施加法和四探针法，能够高精度地测量材料的表面电阻率、体积电阻率（比电阻）和电导率，可随时随地对低电阻区域进行精确测量。宽广测量范围：测量范围从10⁻⁴Ω扩展至10⁷Ω，相比

日本techno morioko 薄型电阻率测试仪

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简介：产品特点高精度测量：采用恒流施加法和四探针法，能够高精度地测量材料的表面电阻率、体积电阻率（比电阻）和电导率，可随时随地对低电阻区域进行精确测量。宽广测量范围：测量范围从10⁻⁴Ω扩展至10⁷Ω，相比