第三方检测实验室用飞纳大仓室台式扫描电镜 Phenom XL G3

Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可用于第三方检测实验室的多类型样品形貌观察与分析。

Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒，可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析，适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝，电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。

该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器，并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定，可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议，并预约试样。

产品特点

1. 大仓室设计，适应多类型检测样品

**支持 100 × 100 mm 样品分析，可同时容纳 36 个样品，适合第三方检测实验室开展多样品、多类别检测工作。

2. 快速成像，提高检测服务效率

平均成像时间约 40 秒，可快速获取样品微观形貌信息，满足检测机构日常样品分析需求。

3. 通用型形貌分析平台

电子光学放大倍数**可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，可用于金属、陶瓷、高分子、电子元器件及粉体材料等多类样品观察。

4. CeB6 灯丝电子源，保障长期检测需求

采用 CeB6 灯丝，使用寿命优于 3000 小时，可满足检测实验室连续使用需求。

5. 多种真空模式，提升样品适应性

支持低真空、中真空和高真空三种模式，可根据不同样品特性选择合适的测试环境。

6. 支持形貌与元素综合分析

标配背散射探测器，可选配二次电子探测器和能谱探测器，满足样品形貌观察、异常区域分析及元素检测需求。

7. 台式设计，便于实验室部署

设备结构紧凑，可应用于第三方检测机构、高校实验室、企业研发中心及质量控制部门。

应用领域

Phenom XL G3 可应用于以下场景：

• 第三方检测实验室样品分析

• 材料微观形貌观察

• 金属及合金材料检测

• 电子元器件失效分析

• 粉体及颗粒材料观察

• 高分子及复合材料分析

• 产品质量控制

• 企业研发检测

技术参数

常见问题

1. Phenom XL G3 适合第三方检测实验室吗？

适合。设备支持多类型材料样品分析，并具备大仓室、多样品承载和快速成像特点，可满足检测机构日常测试需求。

2. 设备可以分析哪些类型样品？

可用于金属、陶瓷、高分子、粉体、电子元器件及其他固体材料的微观形貌观察与分析。

3. 是否支持元素分析？

支持。设备可选配能谱探测器（EDS），用于颗粒、异物、污染区域及局部位置的元素组成分析。

4. 产品价格如何确定？

设备价格根据型号配置、探测器组合、应用需求及服务方案确定。用户可通过平台询价入口提交样品类型和测试需求，获取对应配置建议。

如需了解 Phenom XL G3 在第三方检测实验室中的应用方案、设备配置或测试资料，可通过平台留言提交样品信息与检测需求，获取进一步产品信息。