Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可用于太阳能电池片形貌观察，帮助分析电池片表面、截面和缺陷形貌。

Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒，可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析，适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝，电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。

该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器，并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定，可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议，并预约试样。

性能特点

大仓室兼容

载物平台**规格 100 × 100 mm，单次同步装载 36 个样品，满足电池片等较大尺寸样品及批量筛查需求。

快速出图

单次采集周期约 40 秒，适配日常检测及多样品快速观察节奏。

高分辨成像

电子光学放大上限 200,000 X，空间分辨优于 8 nm，可清晰呈现电池片表面绒面、栅线及微观缺陷。

长效电子源

CeB₆ 灯丝持续运行寿命优于 3000 小时，降低维护频次，保障长期稳定运行。

真空灵活切换

低 / 中 / 高 三档真空环境，适配不同含水率及导电性光伏样品。

探测按需扩展

背散射探测器为出厂标配；二次电子探测器、能谱探测器可按需增配，实现形貌与成分联合表征。

彩色光学导航

集成彩色相机，辅助快速定位目标观测区域。

桌面级部署

台式紧凑结构，无需专用制样空间，常规实验室环境即可安装运行。

 典型应用

- 太阳能电池片表面绒面形貌观测

- 电池片截面结构解析（绒面深度、钝化层、电极界面等）

- 栅线印刷质量检视

- 表面缺陷（裂纹、污染、脱落等）溯源

- 光伏材料工艺优化与质量管控

| 光学放大 | 3–19 X |

| 电子光学放大 | 200,000 X |

| 分辨率 | 优于 8 nm |

| 电子枪 | CeB₆ 灯丝，使用寿命优于 3000 小时 |

| 光学导航相机 | 彩色 |

| 平均成像时间 | 约 40 秒 |

| **样品尺寸 | 100 × 100 mm |

| 样品承载 | 36 个（同步） |

| 加速电压（基本模式） | 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |

| 加速电压（高级模式） | 4.8 kV–20.5 kV 连续可调 |

| 真空模式 | 低 / 中 / 高 |

| 标配探测器 | 背散射探测器 |

| 可选探测器 | 二次电子探测器、能谱探测器 |

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用户问答

Q：可检样品范围？

A：较大规格电池片、多批次同步筛查及常规光伏材料形貌观测。

Q：成分分析能力？

A：增配能谱探测器后，可对微区颗粒、外来污染或特定位置的元素组成进行定性判定。

Q：采购价格？

A：依主机配置、探测单元选型、应用场景及服务方案综合评估。通过平台询价通道提交需求，获取针对性选型建议并安排试样。

联系通道

提交电池片类型与表征需求至粉体网平台询价入口，获取 Phenom XL G3 在太阳能电池片微观分析方向的官方配置建议与试样安排。