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建筑材料微观形貌观察用飞纳扫描电镜 Phenom XL G3
建筑材料微观形貌观察用飞纳扫描电镜 Phenom XL G3
  • 型号

    建筑材料微观形貌观察用Phenom XL G3
  • 产地

    荷兰
  • 品牌

  • 产品分类

    扫描电镜
  • 关注度

    32
  • 参考报价

产品详情


建筑材料微观形貌观察用飞纳扫描电镜 

飞纳推出的大仓室台式扫描电镜,可用于建筑材料微观形貌观察,帮助分析水泥、混凝土、砂浆等材料结构。

平均成像时间约 40 秒,可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析,适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝,电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm,适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。

该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器,并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定,可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议,并预约试样。

 

  • 超大仓室,样品适配性强:大仓室结构设计,支持**100×100mm大尺寸样品检测,可同时容纳多组样品,满足大规格建材及批量样品检测需求。

  • 快速成像,检测效率高:平均成像时间约40秒,成像速度快,适配建筑材料大批量、常态化日常检测工作,有效提升检测效率。

  • 超高精度,微观成像清晰:电子光学放大倍数**可达200000X,成像分辨率优于8nm,可清晰观测建材微观孔隙、颗粒结构、细微缺陷。

  • 性能稳定,长效耐用:采用优质CeB6灯丝,灯丝使用寿命优于3000小时,设备运行稳定,大幅降低实验室长期运维成本。

  • 多真空模式,适配多类建材:支持低、中、高三种真空模式,可适配水泥、混凝土、砂浆等多种建筑材料,避免样品检测损伤。

  • 模块化配置,灵活定制:标配背散射探测器,可按需选配二次电子探测器、能谱探测器,满足微观形貌观测、元素成分分析等多元化检测需求。



光学放大:3 - 19 X

电子光学放大:200,000 X

分辨率:优于 8 nm

电子枪:CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时

光学导航相机:彩色

平均成像时间:约 40 秒

**样品尺寸:100 x 100 mm

样品承载:可同时容纳 36 个样品

加速电压:基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV

高级模式:4.8 kV - 20.5 kV 连续可调

真空模式:低 / 中 / 高三种模式

探测器:背散射探测器

可选探测器:二次电子探测器、能谱探测器

应用领域

核心应用于建筑材料检测行业,涵盖各类建筑材料微观形貌观察、水泥颗粒形貌与粒度分析、混凝土内部孔隙及结构观测、新型建材配方研发、建材产品质量控制、第三方建筑材料权威检测等场景。

常见问题:

1. 这款设备适合哪些样品?适合较大尺寸样品、多样品检测以及常规材料形貌观察。

2. 是否可以做元素分析?设备可根据需求选配能谱探测器,用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。

3. 价格是多少?价格根据设备配置、探测器选项、应用需求和服务方案确定,可通过平台询价入口获取官方选型建议,并预约试样。

 

如需了解 Phenom XL G3 在建筑材料微观形貌中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。


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