当待测物体体积较大时，推荐使用此产品。
这是HKT-Master0.1BD的加大型版本。
※除测量支架外，其其他规格与HKT-Master0.1BD相同。

HKT‑Master0.1BDL 为 HKT‑Master0.1BD 的花岗岩大底座版本，除测量平台以外，其余核心硬件参数与 0.1BD 完全一致。配置 200mm×150mm 大型花岗岩测量台，可放置大尺寸薄片、大规格复合板材、大面积陶瓷基板等常规小台面无法承载的工件。测量分辨率 0.1μm，量程 0‑500μm，重复精度 0.2μm；采用气动匀速下压机构，恒定 0.14N 测量压力，搭载 R30 硬质合金球面测头。花岗岩底座刚性高、热变形小，抑制大件样品自重带来的台面微形变，保障测量数据稳定。支持 RS232C/USB 通讯，可连接 PC 软件采集、存储、导出厚度数据与分布曲线，支持脚踏开关操作，遵循 ASTM D374、GB/T 6672 薄膜厚度测试标准，AC100‑240V 宽电压供电，适用于半导体、新能源、复合材料行业大尺寸试样的实验室质检与来料检测。

• 大型花岗岩石质平台，台面 200×150mm，专门适配大尺寸基板、大面积复合薄片，解决标准台面放不下大件试样的局限，拓展大工件检测能力。

• 花岗岩底座低形变、热稳定性优异，抵消大件样品自重引发的台面微变形，保证 0.1μm 级测量重复性，避免大工件测值漂移问题。

• 完整继承 HKT‑Master0.1BD 核心测量单元，0.1μm 分辨率、0.14N 低压气动下压，兼顾大样品兼容与精密测量性能，无需更换核心传感组件。

• 气动无冲击下压，球面硬质合金测头，防止高价值基板表面划伤，兼顾硬质薄片与部分柔性复合膜的检测，设备通用性强。

• 支持脚踏开关，大件样品摆放定位时解放双手，便于多点扫描测量；完整的数据输出能力，记录工件全域厚度分布，输出报告，满足品质追溯需求。