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日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统
日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统
  • 型号

    HYPER SCAN‑M4
  • 产地

    日本
  • 品牌

  • 产品分类

    无损检测/无损探伤仪器
  • 关注度

    65
  • 参考报价

    1万元以下
产品详情

超音波探伤多系统HYPER SCAN-M4(海帕斯坎-M4)采用多通道(2CH、4CH)架构,从而提升工作效率。其软件功能也十分完善,有助于更准确地检测和识别缺陷。


规格

使用可能探触子5~150MHz
有效测量范围350mm×350mm
※可根据具体工件进行定制
检测间距≥10μm
机器人速度≤3000mm/s(不含加速减速)
设备尺寸宽932mm×深1120mm×高1335mm
其他安全措施(光幕),
水槽升降功能

使用例

功率模块
・模块内部的缺陷检测
・芯片/电路基板的焊点检测
・基板/底板的焊点检测
・模块与底板之间的粘合树脂层检测
・带散热片的模块的内部检测

陶瓷部件/复合材料
・陶瓷与金属(铜、铝)的连接层检测
・静电夹具部件的剥离检测
・金属基板电路与基座之间的连接检测
・陶瓷的裂纹检测

软件功能

・局部放大功能
 在检测图像中指定区域后,即可放大显示该区域。
・缺陷列表显示
 对指定区域内的缺陷进行二值化处理,从而显示缺陷列表。
・所选缺陷的图像显示
 通过列表中的选项来选中特定缺陷,然后以彩色形式在图像上显示该缺陷。
・尺寸测量功能
 可测量矩形区域的X、Y方向长度以及两点间的距离。

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