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纤维材料截面观察用飞纳台式扫描电镜
纤维材料截面观察用飞纳台式扫描电镜
  • 型号

    纤维材料截面观察用Phenom XL G3
  • 产地

    荷兰
  • 品牌

  • 产品分类

    扫描电镜
  • 关注度

    347
  • 参考报价

产品详情

XL 大仓室自动化电镜(Phenom XL G3)由飞纳研发,面向纤维及纺织材料领域,专注于纤维截面形貌、表面纹理及内部瑕疵的微观尺度表征。

Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜,可用于纤维材料截面观察,帮助分析纤维截面形貌、表面结构和缺陷特征。

 平均成像时间约 40 秒,可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析,适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝,电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm,适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器,并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定,可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议,并预约试样。

成像能力

分辨率、放大倍数

  • 光学放大:3–19 X

  • 电子光学放大:200,000 X

  • 分辨能力:优于 8 nm

  • 电子枪:CeB₆ 灯丝,使用寿命优于 3000 小时

成像速度

  • 单次成像耗时:约 40 秒

适用场景

  • 纤维截面形貌检视

  • 表面纹理结构观测

  • 内部瑕疵溯源分析

  • 日常质检、研发检测、失效溯源


样品处理能力

仓室尺寸

  • **样品规格:100 × 100 mm

样品承载量

  • 同步装载:36 个

真空模式

  • 低真空 / 中真空 / 高真空 三档可选


分析检测能力

标配探测器

  • 背散射探测器

可选配置

  • 二次电子探测器

  • 能谱探测器

扩展功能

  • 微区元素定性分析(需增配能谱探测器)


典型应用领域

  • 纤维材料截面形貌表征

  • 纺织纤维微观结构检视

  • 复合纤维断面分析

  • 材料研发阶段检测

  • 第三方机构检测服务


参数项规格
电子光学放大倍数200,000 X
光学放大倍数3 - 19 X
分辨率优于 8 nm
电子枪CeB6 灯丝,寿命 >3,000 h
平均成像时间约 40 秒
**样品尺寸100 × 100 mm
样品承载数量36 个
加速电压(基本模式)2 kV / 5 kV / 10 kV / 15 kV / 20 kV
加速电压(高级模式)4.8 kV - 20.5 kV 连续可调
真空模式低真空 / 中真空 / 高真空
标配探测器背散射探测器(BSD)
可选探测器二次电子探测器(SED)、能谱探测器(EDS)
光学导航相机彩色




表征对象

  • 天然纤维(棉、麻、丝、毛)

  • 化学纤维(涤纶、锦纶、腈纶、维纶等)

  • 高性能纤维(碳纤维、芳纶、超高分子量聚乙烯纤维等)

  • 复合纤维

  • 纺织面料及无纺布

用户问答

可检对象?较大规格纤维样品、多批次并行筛查及常规材质微观形貌检视。

成分判定能力?增配能谱探测器后,可对纤维截面填料、外来夹杂或特定微区的元素组成进行定性分析。

报价方式?依主机配置、探头选型、应用场景及售后服务方案综合评估。通过平台留言通道提交需求,获取定制化选型方案并安排试样。


如需了解 Phenom XL G3 在纤维材料截面观察中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。



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