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地质矿物颗粒成分分析用飞纳台式扫描电镜
地质矿物颗粒成分分析用飞纳台式扫描电镜
  • 型号

    地质矿物颗粒成分分析用Phenom ProX G7
  • 产地

    荷兰
  • 品牌

  • 产品分类

    扫描电镜
  • 关注度

    431
  • 参考报价

产品详情

地质矿物颗粒成分分析用飞纳台式扫描电镜Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜能谱一体机,可用于地质矿物颗粒成分分析,帮助观察矿物形貌并辅助判断元素组成。

 

参数指标
电子枪CeB₆ 灯丝(寿命>3000 h)
光学放大倍率27–160 X
电子光学放大倍率350,000 X
分辨能力优于 6 nm
加速电压(基础档)2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
加速电压(连续档)4.8 kV–20.5 kV 连续可调

产品特点:

1. 台式扫描电镜与能谱分析能力结合。

2. 电子光学放大倍数可达 350,000 X。

3. 分辨率优于 6 nm,适合常规材料微观形貌观察。

4. CeB6 灯丝寿命优于 3000 小时。

5. 支持高/低真空模式。

6. 标配背散射探测器和能谱探测器,可选配二次电子探测器。

7. 适合颗粒、异物、缺陷区域和材料微区成分分析。

8. 支持官方选型咨询,可预约试样。

部署场景

  • 高校实验室

  • 企业研发中心

  • 第三方检测机构

  • 工业质检环节



参数指标
真空环境高真空 / 低真空
标准探测单元背散射探测器、能谱探测器
扩展探测单元二次电子探测器


典型用途

  • 地质矿物颗粒成分表征

  • 岩石样品微观形貌检视

  • 矿物材质研发检测

  • 科研实验室日常分析

  • 第三方机构检测服务


  • Q1:该设备主要服务于哪些分析需求?A:材质形貌检视、微区元素判定、颗粒异物解析、失效溯源及研发质检。

  • Q2:能否实现元素判定?A:可以。该产品为电镜能谱一体化设备,可对颗粒、异物或局部微区的元素组成进行分析。

  • Q3:设备报价如何确定?A:*终价格与配置方案、探测单元选型及应用需求挂钩。可通过平台询价通道提交需求,获取针对性选型建议并安排试样。

如需了解 地质矿物颗粒成分分析用飞纳台式扫描电镜Phenom ProX G7 在地质矿物成分中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。


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